GBW13971 二氧化硅納米薄膜厚度標準物質(zhì)
英文名稱：CRMs for Thickness of SiO2 Nanosized Thin Layers
應用領域：物理學與物理化學/光學特性
保存條件：貯存在陰涼干燥的室溫環(huán)境條件下
使用注意事項：運輸過程中必須保持包裝的完整，使用過程中必須保持樣品表面清潔
特征形態(tài)：固態(tài)
基體：
主要分析方法：掠入射X射線反射測量和橢偏測量#
定值單位：中國計量科學研究院#
規(guī)格：每盒1片
量值信息
標準值 不確定度 單位 CAS 備注
二氧化硅納米薄膜厚度 50.96 0.85 nm
