GBW13968 二氧化硅納米薄膜厚度標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)
國標(biāo)號：GBW13968
英文名稱：CRMs for Thickness of SiO2 Nanosized Thin Layers
應(yīng)用領(lǐng)域：物理學(xué)與物理化學(xué)/光學(xué)特性
保存條件：貯存在陰涼干燥的室溫環(huán)境條件下
使用注意事項：運輸過程中必須保持包裝的完整，使用過程中必須保持樣品表面清潔
特征形態(tài)：固態(tài)
基體：
主要分析方法：掠入射X射線反射測量和橢偏測量#
定值單位：中國計量科學(xué)研究院#
規(guī)格：每盒1片
量值信息
標(biāo)準(zhǔn)值 不確定度 單位 CAS 備注
二氧化硅納米薄膜厚度 25.96 0.30 nm
